芯片PCT老化試驗箱廣泛應用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐厭性，氣密性。

　　芯片PCT老化試驗箱材質(zhì)：

　　1.試驗箱尺寸：PCT-45(∮400mmxL600mm)圓型試驗箱

　　2.全機外尺寸：900x700x1600mm(W*D*H)立式

　　3.內(nèi)桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)

　　4.外桶材質(zhì)：不銹鋼板材質(zhì)或選噴塑

　　5.保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

　　6.蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱，不生銹。

　　芯片PCT老化試驗箱控制系統(tǒng)：

　　1.采用臺制臺達彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(采用PT-100白金感溫體).

　　2.采用指針顯示壓力表.

　　3.微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.

　　4.手動入水閥(自動補水功能，可不停機連續(xù)試驗).

　　PCT老化試驗箱滿足標準

　　1.GB/T10586-1989濕熱試驗室技術(shù)條件;

　　2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗;

　　3.MIL-STD810D方法502.2;

　　4.GJB150.9-8溫濕試驗;

　　5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗;