hast老化試驗箱國家標準產品詳情
用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。

　　hast老化試驗箱國家標準產品詳情

　　用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。

　　hast老化試驗箱國家標準技術參數：OK-HAST-30、OK-HAST-40、OK-HAST-50、OK-HAST-60

　　規格內:ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70

　　溫度范圍:+100℃～132℃

　　濕度范圍:可調75-100%RH飽和蒸氣固定

　　壓力范圍:環境大氣壓+0.5—2kg/cm2

　　hast老化試驗箱性能：操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.

　　1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).

　　2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).

　　3.壓力范圍:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力(壓力容量3.5Kg/cm2).

　　4.時間范圍:0~999小時可調.

　　5.溫度分布:(+/-)2.0℃.

　　6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內.(控制點溫度)

　　7.加壓時間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內(控制點壓力)。

　　hast老化箱國家標準控制系統：

　　1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.

　　2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…

　　3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.

　　4.控制方式:微電腦PID控制.

　　5.控制精度:(+/-)0.5℃.

　　6.解析精度:0.1℃.

　　循環方式：飽和水蒸氣自然對流循環方式.

　　溫度感應器：(RTD)PT-100Ω(鉑金電阻).

　　加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器.